TALLINNA TEHNIKAÜLIKOOLI
RAAMATUKOGU DIGIKOGU
tuvastatud kui külaline  
 

Vaadatud 109 kord(a)
Alla laetud 9 kord(a) alates 1.01.2018
juurdepääs failidele puudub
juurdepääsu piirang:
  • lubatud TTÜ arvutivõrgu kasutajale
  • Kaugligipääs VPN ühenduse https://toru.ttu.ee kaudu.

    Pealkiri Основы метрологии. Foundations of metrology 
    Autor Laaneots, Rein 
    Märksõnad измеряемая величина, единицы измерений, модель измерения, стандартная, суммарная и расширенная неопределенность, коэффициент охвата, уровень доверия, максимальная допускаемая погрешность (отклонение) результата измерений межлабораторные сравнительные испытания, виды средств измерений, калибровка, метрологическая прослеживаемость,
    measurand, measured quantity, measurement units, measurement model, standard, total and expanded uncertainty, coverage factor, confidence level, maximum permissible error (deviation) of measurement result, interlaboratory comparative tests, types of measuring instruments, calibration, metrological traceability 
    Ilmumisaasta 2017 
    Keel rus 
    Asutus Таллинский Технический Университет
    Tallinn University of Technology
    Всероссийский научно-исследовательский институт метрологии им. Д. И. Менделеева
    D. I. Mendeleyev Institute for Metrology