TALLINNA TEHNIKAÜLIKOOLI
RAAMATUKOGU DIGIKOGU
tuvastatud kui külaline  
 


(3 MB)

Pealkiri Constraints Solving Based Hierarchical Test Generation for Synchronous Sequential Circuits. Kitsenduste lahendamisel baseeruv hierarhiline testigenereerimine sünkroonsetele järjestikskeemidele 
Valdkond Informatics and System Engineering C
Informaatika ja süsteemitehnika C 
Autor Viilukas, Taavi 
Märksõnad automaatsed testide genereerijad, hierarhiline ATPG, digitaalsüsteemide test, dissertatsioonid,
automated test pattern generation, hierarchical ATPG, digital testing, dissertations 
Väljaandja TUT Press 
Juhendaja Raik, Jaan 
Kaitsmiskuupäev 30.11.2012 
Identifikaator ISBN 9789949233830 (publication)
ISBN 9789949233847 (pdf)
ISSN 14064731 
Keel eng 
Asutus Tallinna Tehnikaülikool
Tallinn University of Technology 
Teaduskond Infotehnoloogia teaduskond
Faculty of Information Technology 
Instituut / kolledž Arvutitehnika instituut
Department of Computer Engineering