pealkiri
Testide genereerimine juhuslike arvude meetodil digitaalskeemide rikete diagnoosiks
Random Diagnostic Test Generation for Digital Circuits
autor
Osimiry, Emmanuel Ovie
märksõnad
digital circuits and systems
test generation
master's theses
juhendaja
Ubar, Raimund-Johannes
kaitsmiskuupäev
08.09.2016
keel
eng
asutus
Tallinna Tehnikaülikool
Tallinn University of Technology
teaduskond
Infotehnoloogia teaduskond
Faculty of Information Technology
instituut / kolledž
Arvutitehnika instituut
Department of Computer Engineering
allüksus
Arvutisüsteemide diagnostika ja verifitseerimise õppetool
Chair of Computer Systems Test and Verification