TALLINNA TEHNIKAÜLIKOOLI
RAAMATUKOGU DIGIKOGU
tuvastatud kui külaline  
 


(1.8 MB)

Pealkiri Optimization of Built-In Self-Test in Digital Systems. Sisseehitatud enesetestimise optimeerimine digitaalsüsteemides 
Autor Kruus, Helena 
Märksõnad digitaalsüsteemide testimine, sisseehitatud isetestimine, hübriidne isetestimine, rikete mudelid, optimeerimisalgoritmid, dissertatsioonid,
testing of digital systems, built-in self-test, hybrid BIST, fault models, optimization algorithms, dissertations 
Väljaandja TUT Press 
Juhendaja Ubar, Raimund 
Kaitsmiskuupäev 02.09.2011 
Identifikaator ISBN 9789949231492 (publication)
ISBN 9789949231508 (pdf)
ISSN 1044731 
Keel eng 
Asutus Tallinna Tehnikaülikool
Tallinn University of Technology 
Teaduskond Infotehnoloogia teaduskond
Faculty of Information Technology 
Instituut / kolledž Arvutitehnika instituut
Department of Computer Engineering 
Allüksus Arvutitehnika ja -diagnostika õppetool
Chair of Computer Engineering and Diagnostics