TALLINNA TEHNIKAÜLIKOOLI
RAAMATUKOGU DIGIKOGU
tuvastatud kui külaline  
 


(0.6 MB)

Pealkiri Hierarchical Test Pattern Generation and Untestability Identification Techniques for Synchronous Sequential Circuits. Hierarhilised testigenereerimise ja mittetestitavuse identifitseerimise meetodid sünkroonsetele järjestikskeemidele 
Autor Rannaste, Anna 
Märksõnad hierarhiline testigenereerimine, järjestikskeem, digitaalskeem, mittetestitav viga, dissertatsioonid,
hierarchical test pattern generation, sequential circuit, digital circuit, untestable fault, dissertations 
Väljaandja TUT Press 
Juhendaja Raik, Jaan 
Kaitsmiskuupäev 25.11.2010 
Identifikaator ISBN 9789949230419
ISSN 14064731 
Keel eng 
Asutus Tallinna Tehnikaülikool
Tallinn University of Technology 
Teaduskond Infotehnoloogia teaduskond
Faculty of Information Technology 
Instituut / kolledž Arvutitehnika instituut
Department of Computer Engineering 
Allüksus Arvutitehnika ja -diagnostika õppetool
Chair of Computer Engineering and Diagnostics