TALLINNA TEHNIKAÜLIKOOLI
RAAMATUKOGU DIGIKOGU
tuvastatud kui külaline  
 

Vaadatud 376 kord(a)
Alla laetud 3 kord(a) alates 1.01.2018
juurdepääs failidele puudub
juurdepääsu piirang:
  • lubatud TTÜ arvutivõrgu kasutajale
  • Kaugligipääs VPN ühenduse https://toru.ttu.ee kaudu.

    Pealkiri Characterization of Radiation Damage by Transmission Electron Microscopy 
    Autor Jenkins, M. L. ; Kirk, M. A. 
    Märksõnad Materials, Effect of radiation on Materials, Microscopy, Transmission electron microscopy 
    Väljaandja IOP Publishing 
    Ilmumisaasta 2001 
    Identifikaator ISBN 075030748X 
    Allikas Series in Microscopy in Materials Science 
    Keel eng